手機的加速壽命測試試驗方法

手機的加速壽命測試試驗方法

樣機標準數量： PR1：10臺  PR2：12臺   PR3：12臺   PIR：12臺
試驗周期：10-12天
室溫下參數測試：
1.1溫度沖擊測試                                  
測試環(huán)境：低溫箱：-30° C ；高溫箱：+70° C
試驗方法：手機帶電池，設置成關(guān)機狀態(tài)先放置于高溫箱內持續45分鐘后，在15秒內迅速移入低溫箱并持續45分鐘后，再15秒內迅速回到高溫箱。此為一個(gè)循環(huán)，共循環(huán)27次。實(shí)驗結束后將樣機從溫度沖擊箱（高溫箱）中取出，恢復2小時(shí)后進(jìn)行外觀(guān)、機械和電性能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品打開(kāi)翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準：手機表面噴涂無(wú)異變，結構無(wú)異常，功能正常，可正常。
1.2.跌落試驗：
測試條件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。（對于觸摸屏手機,跌落高度為1.3m）
試驗方法：將手機處于開(kāi)機狀態(tài)進(jìn)行跌落。對于直握手機，進(jìn)行6個(gè)面的自由跌落實(shí)驗，每個(gè)面的跌落次數為1次，每個(gè)面跌落之后進(jìn)行外觀(guān)、結構和功能檢查。對于翻蓋手機，進(jìn)行8個(gè)面的自由跌落實(shí)驗；其中一半樣品合上翻蓋按直握手機的方法進(jìn)行跌落，另一半樣品在跌正面和背面時(shí)須打開(kāi)翻蓋。跌落結束后對外觀(guān)、結構和功能進(jìn)行檢查。
試驗標準：手機外觀(guān)，結構和功能符合要求。
1.3振動(dòng)試驗：
測試條件：振幅：0.38mm/振頻：10~30Hz；振幅：0.19mm/振頻：30~55Hz；
測試目的：測試樣機抗振性能
試驗方法：將手機開(kāi)機放入振動(dòng)箱內固定夾緊。啟動(dòng)振動(dòng)臺按X、Y、Z三個(gè)軸向分別振動(dòng)1個(gè)小時(shí)，每個(gè)軸振完之后取出進(jìn)行外觀(guān)、結構和功能檢查。三個(gè)軸向振動(dòng)試驗結束后，對樣機進(jìn)行參數測試。
試驗標準：振動(dòng)后手機內存和設置沒(méi)有丟失現象，手機外觀(guān)，結構和功能符合要求，參數測試正常，晃動(dòng)無(wú)異響。
1.4 濕熱試驗：
測試環(huán)境：60° C，95%RH
測試目的：測試樣機耐高溫高濕性能
試驗方法：將手機處于關(guān)機狀態(tài)，放入溫濕度實(shí)驗箱內的架子上，持續60個(gè)小時(shí)之后取出，常溫恢復2小時(shí)，然后進(jìn)行外觀(guān)、結構和功能檢查。對于翻蓋手機，應將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開(kāi)翻蓋；對于滑蓋手機，應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準：手機外觀(guān)，結構和功能符合要求。
1.5  靜電測試： 
測試條件：+/-4kV~+/-8kV，開(kāi)機并處于充電狀態(tài)，+/-4kV接觸和~+/-8kV空氣放電各10次。具體測試方法詳見(jiàn)公司測試標準細則。
測試目的：測試樣機抗靜電干擾性能                                          
試驗標準：在+/-4Kv 和 +/-8Kv時(shí)出現任何問(wèn)題都要被計為故障。